| TTC ID | メーカー | 型式 | 品名・仕様 | 年式 | 台数 |
|---|---|---|---|---|---|
| 5MEAade-603-H9688 | ADE | 6034 | 厚み測定器 | inq. | 1 |
| 5MEAade-ax--N0645 | アデックス | AX-170A | 抵抗率測定器 | Inq. | 1 |
| 5MEAavi-tvs-Q7542 | 日本アビオニクス | TVS-8500 | 赤外線サーモグラフィ | 2005 | 1 |
| 5MEAbio-q8-A0986 | BIO-RAD | Q8 | 重ね合わせ測定機 | Inq. | 1 |
| 5MEAcde-res-P14336 | CDE | ResMap | 抵抗率測定装置 | 2021 | 1 |
| 5MEAdns-lam-Q13493 | 大日本スクリーン | Lambda_A VM2010 | 光干渉式膜厚測定器/6in. | 2000 | 1 |
| 5MEAdns-vl--Q0159 | 大日本スクリーン | VL-M6000 | 膜厚測定器/6in. | 1993 | 1 |
| 5MEAdns-vl--Q0160 | 大日本スクリーン | VL-M6000 | 膜厚測定器/6in. | 1995 | 1 |
| 5MEAeta-nt5-Q5785 | ETAC | NT510 | 環境試験機 | Inq. | 1 |
| 5MEAev -evg-M11917 | EV Group | EVG40NT | 計測・検査装置 | Inq. | 8 |
| 5MEAfil-f54-A14384 | Filmetrics | F54-XY-200-UV | 光学式フィルムマッパー/6in. | Inq. | 1 |
| 5MEAfis-xdv-E14004 | FISCHERSCOPE | XDVN-W | 蛍光Ｘ線膜厚測定/分析装置 | Inq. | 1 |
| 5MEAfis-xmd-C0904 | FISCHER | XMDVM-T7.1-W | 膜厚計測 | Inq. | 1 |
| 5MEAflu-51-Q7400 | フルーク | 51 | ディジタル温度計 | Inq. | 1 |
| 5MEAfsm-128-P14335 | FSM | 128NT | 薄膜応力測定機 | Inq. | 1 |
| 5MEAhel-xdl-P9675 | HelmutFischer | XDL-B | 膜厚測定装置 | 2008 | 1 |
| 5MEAhit-ft1-P14127 | 日立ハイテク | FT160L | 蛍光X線膜厚計 | Inq. | 1 |
| 5MEAhm-901-N0647 | HM | 9010 | 抵抗率測定器 | Inq. | 2 |
| 5MEAhmt-mfs-A10548 | HMT | MFS-630 | 分散型ブラッグリフレクター | inq | 1 |
| 5MEAhoz-dt--Q7428 | ホーザン | DT-510 | ディジタル温度計 | Inq. | 1 |
| 5MEAhp-815-P5181 | HP | 8153A | 光マルチメーター | Inq. | 2 |
| 5MEAinq-le1-Q7362 | Inq. | LE12520RNN | 温度記録ユニット | 2000 | 1 |
| 5MEAinq-tvs-Q7363 | Inq. | TVS-110 | ハンディサーモ | 2000 | 1 |
| 5MEAkei-700-A9023 | Keithley | 7001 | Switch Control Unit | Inq. | 1 |
| 5MEAkei-700-A9024 | Keithley | 7001 | Switch Control Unit | Inq. | 1 |
| 5MEAkla-501-G10106 | KLA-テンコール | 5011 | Washing | inq | 1 |
| 5MEAk-m-stc-P3226 | K-Mac | STCM-7392AGL | 抵抗/彩度/光学フィルム厚さ測定機 | 2012 | 1 |
| 5MEAmet-tma-L10741 | メトラー・トレド | TMA SDTA 1 LF/1100 | 熱機械分析装置 | 2014 | 1 |
| 5MEAnan-pl -A14465 | ナノメトリクス | PL RPM Blue | フォトルミネッセンス（PL）マッピング装置 | 2000 | 1 |
| 5MEAnap-nap-A14166 | ナプソン | NAP-NC-80MAP(RS) | 非接触式抵抗率/シート抵抗測定器 | 2012 | 1 |
| 5MEAnap-rt--H9689 | ナプソン | RT-70V | 抵抗測定装置 | inq. | 2 |
| 5MEAnap-rt--P9674 | ナプソン | RT-70 | 抵抗測定装置 | 1990 | 1 |
| 5MEAnor-lms-8979 | North Sutton NH | LMS-050CM | Labsphere | Inq. | 1 |
| 5MEAoly-ar2-P3232 | オリンパス | AR2060 | 線幅測定機/MCD | 2012 | 1 |
| 5MEArev-rvx-A13688 | REVERA | RVX1000 | 膜厚検査装置/12in | 2007 | 1 |
| 5MEArud-met-A14177 | ルドルフ | MetaPULSE G | 膜厚測定機/6in | 2020 | 1 |
| 5MEArud-met-F11313 | ルドルフ | metapulse@200 mm | 金属膜厚測定器 | 2003 | 1 |
| 5MEArud-mp3-A2901 | Rudolph | MP300 | 金属膜厚測定器 | Inq. | 1 |
| 5MEArud-mp3-A5669 | ルドルフ | MP300 | 膜厚測定システム/12in. | Inq. | 1 |
| 5MEAsci-fil-A10547 | SCI | FilmTek 1000 | Filmtek | inq | 1 |
| 5MEAsha-mod-Q6503 | SHAW | MODEL SHA | 露点計 | 1991 | 1 |
| 5MEAsks-sk--Q7457 | 佐藤計量器製作所 | SK-1100/SK-K010 | ディジタル温度計 | Inq. | 1 |
| 5MEAsks-sk--Q7458 | 佐藤計量器製作所 | SK-1250MCⅢ | ディジタル温度計 | Inq. | 1 |
| 5MEAtek-lx4-8978 | TEKNOLOGUE | LX4670B | Control Unit | Inq. | 1 |
| 5MEAysy-ywa-A10740 | Ysystems | YWAFER Mapper GS2 | PLマッパー/2-4in | 2006-2010 | 2 |
