| TTC ID | メーカー | 型式 | 品名・仕様 | 年式 | 台数 |
|---|---|---|---|---|---|
| 5SEMfei-db2-P11765 | FEI | DB235 | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 2 |
| 5SEMfei-exp-P14459 | FEI | EXPIDA1265 | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 1 |
| 5SEMfei-fib-P11766 | FEI | FIB 800 | 集束イオンビーム装置 | Inq. | 1 |
| 5SEMfei-hel-P13459 | FEI | Helios NanoLab 1200AT | 走査電子顕微鏡/TEM | 2012 | 1 |
| 5SEMfei-v46-P5361 | FEI | V460L | SEM(走査電子顕微鏡) | 2016 | 1 |
| 5SEMfei-ver-A9993 | FEI | Verios 460L | SEM | 2016 | 1 |
| 5SEMhit-s-2-A10918 | 日立 | S-2500C | SEM | inq. | 1 |
| 5SEMhit-s-2-E9402 | 日立ハイテク | S-2300 | 走査線電子顕微鏡 | 1988 | 1 |
| 5SEMhit-s-2-Q9957 | 日立 | S-2600N | 走査電子顕微鏡（SEM） | 2003 | 1 |
| 5SEMhit-s-3-Q8841 | 日立 | S-3000H | 電子顕微鏡 | 2003 | 1 |
| 5SEMhit-s-4-A12656 | 日立 | S-4500 | SEM/5in | Inq. | 1 |
| 5SEMhit-s-5-F12827 | 日立 | S-5200 | FE-SEM | Inq. | 1 |
| 5SEMjoe-jem-A4594 | 日本電子 | JEM-2100F | 電界放出形透過電子顕微鏡 | 2016 | 1 |
| 5SEMtop-sm--H5209 | TOPCON CORP. | SM-200 | SEM(走査電子顕微鏡) | 2001 | 1 |
