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Trust Technology Corporation |
販売中古装置情報： Testing
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| TTC ID | メーカー | 型式 | 品名・仕様 | 年式 | 台数 | 対応製品 | |
| * | 5OTHadi-asm-G10182 | Adixen | ASM GRAPH D+ | リークディテクタ | inq | 2 | |
| * | 5OTHama-vsb-G10183 | アプライド・マテリアルズ | VSBD302 | リークディテクタ | inq | 1 | |
| * | 5OTHanr-mg5-L0467 | アンリツ | MG545A | シンセサイザ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHas -hs--N0249 | アズワン | HS-50D | マグネチックスターラー | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHasi-el--L10559 | ASIC | EL-A | エレクトロルミネッセンス・テスター | inq | 2 | |
| * | 5OTHasi-scs-L11105 | ASIC SHANGHAI | SCSS-EL02 Plus | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHasm-asm-F12354 | ASM | ASM Calibration kit | Tester Calibration Kit | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHayu-es--L0876 | アユミ工業 | ES-30DL | 真空封止装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHb&w-bwr-Q9958 | B&W TEK inc | BWR-20E/55869 | 1064nmレーザ | inq | 1 | |
| * | 5OTHbro-lvd-Q8666 | ブルックフィールド | LVDV-2+PRO-CP | 粘度計 | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-sh4-Q7536 | BSC Filters | SH4457 | ハイパスフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-sh4-Q7537 | BSC Filters | SH4458 | ハイパスフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-xn4-Q7543 | BSC Filters | XN4455 | ノッチフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHbsc-xn4-Q7544 | BSC Filters | XN4456 | ノッチフィルタ | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHcan-850-Q7353 | キヤノン | 850670H-0312 | L負荷用LABVIEWUPGRADE | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHcat-adv-Q7420 | CATC | Advisor | USB2.0バス&プロトコルアナライザ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcbc-vm--Q8667 | CBC | VM-10A-M | 粘度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHcho-uj--Q6509 | 超音波工業 | UJ-246-1C | ワイヤープルテスター | 1991 | 1 | |
| * | 5OTHchr-ja--A10535 | ChromTech | JA-5103N | 電子天秤 | 1997 | 1 | |
| * | 5OTHcom-32m-Q7386 | コンピューテックス | 32M41 | インサーキットデバッガ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdag-240-C11018 | DAGE | 2400A | ワイヤープル試験機 | 2006 | 1 | |
| * | 5OTHdag-300-M11701 | DAGE | 3000 | ワイヤープルテスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdag-bt--S4576 | DAGE | BT-24 | ボンドテスター | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHdat-alp-A1714 | Data Systems | ALP-7012LA | LD DRIVER | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHdit-rdf-K6336 | ディテクト | RDF-D3 | ハイスピードカメラ | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-E11289 | エスペック | TSA-71H-W | 冷熱衝撃試験装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-E11290 | エスペック | TSA-201S-W | 冷熱衝撃試験装置 | 2006 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-E7102 | エスペック | TSA-71H-W | 冷熱衝撃試験装置 | 2001 | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsa-L12812 | エスペック | TSA-70L-A | 冷熱衝撃試験装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHesp-tsb-C0537 | エスペック | TSB-2 | 冷熱衝撃試験装置 | 1999 | 1 | |
| * | 5OTHeta-nt2-R5462 | エタック/楠本化成 | NT2031W | 熱衝撃試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHeve-kf--P0849 | Everfine | KF-2 | 環境選別器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHeve-kf--P0850 | Everfine | KF-2 | 環境選別器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHftd-0.8-F12338 | FTD | 0.8*0.8 TR test socket and socket board | PCB Components and Test Station Socket | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHfuj-ape-Q9489 | 藤田製作所 | APE-PWIGBT | 高温高湿負荷バイアス試験装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHfuj-fth-Q7342 | 藤田製作所 | FTH-100 | THERMALFET試験装置 | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHfuk-msx-L0414 | フクダ | MSX-5086 | リークディテクタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHgia-inq-A0929 | Giant Force Instrument Enterprise | Inq. | 高低温試験装置 | 2012 | 1 | |
| * | 5OTHhac-210-K9970 | HACH | 2100P | 濁度計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHhay-laa-K6048 | ハヤシレピック | LAA-150UE | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhay-lum-K6047 | ハヤシレピック | Luminar Ace | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhil-cht-V3936 | HILA | CHT-6A | 電子温湿度計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhio-312-Q7401 | 日置電機 | 3127 | クランプオンテスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhio-315-Q10400 | HIOKI | 3158 | 耐圧試験装置 | 2007/2010/2013/2015 | 5 | |
| * | 5OTHhio-380-Q7501 | 日置電機 | 3805 | ディジタルハイテスタ | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHhio-lr8-Q9687 | 日置電機株式会社 | LR8431 | データメモリーハイロガー | inq. | 1 | |
| * | 5OTHhir-pc--Q6508 | 平山製作所 | PC-204RⅢ | ﾌﾟﾚｯｼｬｰｸｯｶｰ | 1990 | 1 | |
| * | 5OTHhit-ec--Q9488 | 日立アプライアンス | EC-45MHPS | 恒温恒湿試験装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHhit-es--Q6481 | 日立ｱﾌﾟﾗｲｱﾝｽ | ES-76LH | 冷熱衝撃試験装置 | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHhit-i-2-P4814 | 日立 | I-20 MI-SCOPE-120 | 超音波スキャン分析装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHhit-mi--E9405 | 日立パワーソリューションズ | mi-scopeMI-25 | 超音波探査映像装置（USI） | 1997 | 1 | |
| * | 5OTHhum-a-q-L0875 | ヒューモ | A-QB-210 | ブランク周波数選別機 | 2004 | 1 | |
| * | 5OTHima-svf-E11059 | 今田製作所 | SVF-500NA-SL | 引張圧縮試験機 | 2004 | 1 | |
| * | 5OTHinq-el1-L11107 | inq. | EL140 | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0924 | Inq. | Inq. | RPT | 2013 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0930 | Inq. | Inq. | 洗浄装置 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHinq-inq-A0931 | Inq. | Inq. | 貯蔵設備 | 2013 | 1 | |
| 5OTHinq-inq-K6044 | Inq. | Inq. | 深度測定器 | Inq. | 1 | ||
| 5OTHinq-inq-S0970 | Inq. | Inq. | パフォーマンスボード | 1991 | 1 | ||
| * | 5OTHinq-jtx-A0922 | Inq. | JTXBJ-075 | 補修機 | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHinq-lta-Q0155 | Inq. | LTA-330A | ライフタイム測定器/5in. | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHirv-950-Q12986 | Irvine Optical Corp | 9500 | フラットネステスター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHiso-ven-L0447 | Isothermal | VENUS 125B | 温度計校正器 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHite-ap--Q9490 | アイテック | AP-20-3S-OP/AP-20-3S-BT | 高温OP試験用装置 | 2004 | 2 | |
| * | 5OTHjad-lpw-V3938 | JADEVER | LPWN-1530 | 電子天秤 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12329 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2015 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12330 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12331 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2017 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12332 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2017 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12333 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2018 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12334 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHjtk-jtk-F12335 | JTK | JTK-DIG32 | リークテスタ | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHkan-is--H12931 | 兼松KGK | IS-9800CTP | AVI検査装置 | Inq. | 7 | |
| * | 5OTHkey-lc--E10774 | キーエンス | LC-2101 | レーザー変位計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHkey-lc--E10775 | キーエンス | LC-2210 | レーザー変位計 | inq | 1 | |
| * | 5OTHkoh-k2--Q10897 | 神津精機(株) | K2-200 | 平面度測定器 | inq. | 1 | |
| * | 5OTHkok-cx1-K11685 | 国際電気 | CX1204 | 排気コントローラ | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHkur-mic-Q8282 | 倉敷化工 | MICRO-ｇ | 空気ばね除振台付き石定盤 | 1991 | 1 | |
| * | 5OTHly--inq-L0570 | LY-MI | Inq. | ブランク分類装置 | 2007 | 1 | |
| * | 5OTHly--inq-L0571 | LY-MI | Inq. | ブランク分類装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHmat-mmt-C0909 | マツザワ | MMT-X7A | 微小硬さ試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmau-181-Q7505 | MAURY MICROWAVE | 1819B | スタブ チューナー | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHmau-804-Q7395 | MAURY MICROWAVE | 8045C | スライドスクリューチューナー | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHmei-ms--W0981 | メイショー | MS-9000GTIR | BGAリワーク装置 | 2011 | 1 | |
| * | 5OTHmic-inq-E7100 | みちのくマシナリー | Inq. | 強度テスター | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHmic-mmd-Q7524 | マイクロニクス | MMD850 | マイクロ波検波器 | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHmic-mt3-Q10038 | マイクロトラック | MT3100II/SDC | 粒度系分布測定装置 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHmin-zhl-Q7399 | MINI-CIRCUITS | ZHL-4240 | 高周波アンプ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmis-msn-Q10787 | ミスミ | MSND2.3-30 | ｵﾝﾄﾞｾﾝｻ | inq | 1 | |
| * | 5OTHmis-msn-Q10790 | ミスミ | MSND2.3-30 | ｵﾝﾄﾞｾﾝｻ | inq | 1 | |
| * | 5OTHmit-cd--E10777 | ミツトヨ | CD-45C | ノギス | inq | 1 | |
| * | 5OTHmit-id--R0172 | ミツトヨ | ID-C112C | デジマチックインジケータ | Inq. | 1 | |
| 5OTHmit-inq-L0497 | ミツトヨ | Inq. | ケージブロック | Inq. | 1 | ||
| * | 5OTHmit-inq-M9533 | ミツトヨ | inq. | CNC画像測定システム | inq. | 1 | |
| * | 5OTHmit-pj3-L0878 | ミツトヨ | PJ300 302-926 | 投影機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmt/-inq-Q7356 | MT/日立ハイテクマテリアルズ | Inq. | F2用EEPROM評価ボード | 2010 | 1 | |
| * | 5OTHmul-bga-F12361 | Multitest | BGA1.6*1.6 test kit | キット | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmul-tes-F12347 | Multitest | TEST KIT for 0.8*0.8 | キット | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHmur-hm--Q9884 | 村上色彩技術研究所 | HM-150 | ヘーズメーター | inq | 2 | |
| * | 5OTHnar-375-Q7500 | NARDA | 3752 | PHASE SHIFTER | 2005 | 1 | |
| * | 5OTHnf-165-Q7499 | エヌエフ回路設計ブロック | 1650 | 任意パターンシンセサイザ | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHnf-ck1-Q7382 | エヌエフ回路設計ブロック | CK1620 | クロックシンセサイザ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnf-ck1-Q7424 | エヌエフ回路設計ブロック | CK1615 | クロックシンセサイザ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnf-es2-Q7393 | エヌエフ回路設計ブロック | ES2000B | 電源環境シミュレータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHnf-es2-Q7394 | エヌエフ回路設計ブロック | ES2000S | 電源環境シミュレータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHnih-rw--L0471 | 日本高周波 | RW-1000E | 高周波誘導加熱 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnik-6d-L0779 | ニコン | 6D | オートコリメータ | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHnik-v-1-K10431 | 株式会社ニコン | V-12 | 万能投影機 | 1985 | 1 | |
| * | 5OTHnik-v-1-T0982 | ニコン | V-12 | 投影機 | 1987 | 1 | |
| * | 5OTHnor-dag-F10933 | Nordson | DAGE4000 | ボンドテスタ | inq. | 2 | |
| * | 5OTHnsk-hm--P6424 | NSK | HM-90 | デプステスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHoga-grt-Q9442 | 小笠原プレシジョン | GRT-04 | 歯車噛合試験機 | inq. | 1 | |
| * | 5OTHoha-ex2-Q8488 | OHAUS | EX2202G | 電子天秤 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHors-aos-Q10044 | ORSA | AOS303-445-30 | シングルモードファイバ青色光源 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHors-hpb-Q10045 | ORSA | HPB455-3 | マルチモードファイバ青色光源 | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHots-qe2-Q10039 | 大塚電子 | QE2100 | 量子効果測定システム | 2016 | 1 | |
| * | 5OTHoyo-ait-E10059 | 応用電機 | AITOS | 光源装置 | inq | 3 | |
| * | 5OTHoyo-aw1-E10078 | 応用電機 | AW1050 | 光源 | inq | 1 | |
| * | 5OTHoyo-aw1-K6195 | 応用電機 | AW1050 | 光源装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpan-pan-B8176 | Panasonic | Panadac944A-210 | 共面性チェックシステム | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpea-ac--L0778 | パール光学 | AC-140F | オートコリメータ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHpei-el--L11110 | Peide | EL-1.4MD-AS | ELテスタ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHpfe-hlt-A13207 | ファイファーバキューム | HLT570 | ヘリウムリークディテクタ | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHphi-ir3-A0581 | Philips | IR3100 | ウエハ赤外線深度測定機/12in. | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHpro-inq-Q7365 | プロダクションテクノロジーセンター九州 | Inq. | 基板強度評価試験機 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHpro-mtg-Q9540 | プロテック | MTG-08A | メタルマスクテンションゲージ | inq. | 1 | |
| * | 5OTHqui-820-L11111 | Quicksun | 820A | パワーシミュレーションテスター | inq. | 1 | |
| * | 5OTHr&k-aa1-P1311 | アールアンドケー | AA160-RS | 高周波電力増幅器 | Inq. | 16 | |
| * | 5OTHrhe-ptr-L12805 | レスカ | PTR-1000 | ボンドテスター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHrhe-ptr-Q12072 | レスカ | PTR-1000 | ボンディングテスタ | 2001 | 1 | |
| * | 5OTHrob-ro--E5006 | ROBERT | RO-27 | エージング装置 | 2001 | 3 | |
| * | 5OTHroh-inq-Q7398 | ローデ＆シュワルツ | Inq. | 無線機テスタ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-abs-L0874 | 三生電子 | ABS-28GF | ブランク周波数選別機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-at--L0872 | 三生電子 | AT-24AS | 周波数選別機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-at--L0873 | 三生電子 | AT-24AS | 周波数選別機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-inq-R0340 | 三和無線測器 | Inq. | TDDB評価装置 | 1996 | 1 | |
| * | 5OTHsan-sc--Q10742 | サンユー電子 | SC-701C | カーボンコーター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHsan-sdc-L0416 | Sansei | SDC-1040 | デジタルコンパレータ | Inq. | 5 | |
| * | 5OTHsan-ss--L0477 | Sansei | SS-868E | ユニバーサルカウンタ | Inq. | 3 | |
| * | 5OTHsar-cp2-K9969 | ザルトリウス | CP224S | 電子天秤 | inq | 1 | |
| * | 5OTHsem-faa-Q12788 | Semiconductor Diagnostics Inc | FAaST 230-SPV | SPV装置 | 2008 | 1 | |
| * | 5OTHsem-wt--R0338 | SEMILAB | WT-85 | ライフタイム測定装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-auy-Q12823 | 島津製作所 | AUY200 | 天秤 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-ehf-E7281 | 島津製作所 | EHF-FB10KN-10LA | サーボパルサ | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHshi-ez -Q12999 | 島津製作所 | EZ Graph | 小型卓上試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-mse-K1419 | 島津製作所 | MSE-4000 | リークディテクタ/He | 1998 | 1 | |
| * | 5OTHshi-mst-A5427 | 島津製作所 | MST-I | 微小強度評価試験機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-smx-Q10756 | 島津製作所 | SMX-1000 | X線透視装置 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHshi-uv2-E10780 | SHINDAIGO | UV225 | 簡易ガス充填卓上型真空包装機 | inq | 1 | |
| * | 5OTHsig-inq-Q10043 | シグマ光器 | inq | 自動回転ステージとコントローラ | 2021 | 1 | |
| * | 5OTHsig-sgs-Q9959 | シグマ光機 | SGSP20-20+SHOT202 | 自動ステージ+ステージコントローラ | inq | 3 | |
| * | 5OTHson-inq-Q7531 | SONY | Inq. | 小型DDデジタルフォトカメラ | 1994 | 1 | |
| * | 5OTHta -dsc-V3566 | TAインスツルメント | DSC-Q20 | 示差走査熱量計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHta -dsc-V3567 | TAインスツルメント | DSC-Q10 | 示差走査熱量計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHtak-tr4-L0437 | タケダ | TR4120 | トラッキングスコープ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHtdk-gen-W0890 | TDK | GEN8-400-D | DC可変電源 | Inq. | 2 | |
| * | 5OTHtek-er8-R3955 | Teknologue | ER8940A | テスター | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHtek-stc-Q7352 | Tektronix | STC399X-99158-7 | L負荷用GPIBコントローラ | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHtop-20--V3945 | TOP | 20-A | 自己記録型温湿度計 | Inq. | 3 | |
| * | 5OTHtro-fm2-A10317 | Tropel | FM200 | ウェーハ用平面度測定機 | inq | 1 | |
| * | 5OTHtsk-em--Q5883 | 東京精密 | EM-21 | IGBTMOSFET 特性評価装置 | 2000 | 1 | |
| * | 5OTHtt -dpv-M13296 | TT VISION | DPVS-2000 | 検査装置 | Inq. | 3 | |
| * | 5OTHulv-gi--L0492 | アルバック | GI-PRAY | 真空計 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHxyz-con-P10206 | XYZTEC | CONDOR 70 | ワイヤープルテスタ | inq | 1 | |
| * | 5OTHxyz-con-P10207 | XYZTEC | CONDOR 100 | ワイヤープルテスタ | inq | 1 | |
| * | 5OTHyok-417-Q7407 | 横河電機 | 4177-100-11 | μR100 打点レコーダ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHyok-ax2-Q7421 | 横河ディジタルコンピュータ | AX220 | SDカードプロトコルアナライザ | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHyok-cm5-P2084 | 横河 | CM500 | ガスモニタ(濃度検査機) | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHysc-htc-V3925 | YSC | HTC-2 | 電子温湿度計 | Inq. | 4 | |
| * | 5OTHz.c-tc--G12092 | Z.C. AUTO | TC-485 | セラミックディスク外観検査機 | Inq. | 1 | |
| * | 5OTHzyv-kz1-P2733 | Zyves | KZ100 | ナノプローブ | Inq. | 1 |
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